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白光干涉測厚儀是一種基于光學干涉原理的高精度測量儀器
2025-06-06 白光干涉測厚儀是一種基于光學干涉原理的高精度測量儀器，主要用于非接觸式測量薄膜、涂層及材料表面微觀形貌的厚度，其核心優(yōu)勢在于無需破壞樣品即可實現(xiàn)納米級精度的測量。應(yīng)用領(lǐng)域：1.半導體與電子：測量晶圓上介質(zhì)膜(如氧化硅、氮化硅)、光刻膠厚度，以及芯片表面微觀結(jié)構(gòu)。2.光學元件：檢測增透膜、反射膜、濾光片的厚度均勻性，確保光學性能。3.材料科學：研究納米薄膜、涂層材料的沉積工藝優(yōu)化，如DLC膜、光伏鍍膜。4.生物醫(yī)學：測定細胞膜、組織切片厚度，或藥物涂層支架的表面特性。5.機械制...
全面了解真空環(huán)境光譜共焦傳感器
2025-05-15 真空環(huán)境光譜共焦傳感器是一種在真空條件下實現(xiàn)高精度非接觸式測量的光學檢測設(shè)備，在真空環(huán)境中，傳統(tǒng)的接觸式測量方法往往因物理接觸可能引入污染或干擾而被限制使用，而光譜共焦技術(shù)憑借其非接觸、高分辨率和抗干擾能力強的優(yōu)勢。光譜共焦技術(shù)的核心在于利用色散光學系統(tǒng)將寬光譜光源分解為不同波長的單色光，這些單色光通過共焦光學系統(tǒng)聚焦在被測物體表面。由于共焦原理，只有特定波長的光能夠在焦點處形成高強度反射，而其他波長的光則因偏離焦點而反射強度大幅減弱。當被測物體的表面位置發(fā)生變化時，反射光的...

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